Vertiefung zur Oberflächentopographie

Aufbauend auf dem Grundlagenseminar Oberflächentopographie werden in diesem Seminar die Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächenstrukturen vertieft. Sie beschäftigen sich mit dem Zustandekommen von 2D-Kennwerten sowie mit 3D-Oberflächenparametern. Zu deren Berechnung werden die Oberflächenstrukturen mit optischen Messmethoden erfasst und analysiert, wobei es dabei in allen dafür notwendigen Schritten zu Fehlern und damit zu Fehlinterpretationen kommen kann. Anhand von ausgewählten Fallbeispielen (geschliffene und polierte Oberflächen, Orangenhaut, Rattermarken) werden diese Fehler analysiert und deren Ursachen diskutiert. Das ermöglicht eine kritische Betrachtung dreidimensionaler Topographieaufnahmen sowie deren Charakterisierung mittels Rauheitsparameter. Aufbauend auf diesen Erkenntnissen werden Strategien und Auswertemethoden diskutiert, welche eine funktionsnahe Untersuchung bzw. Charakterisierung von Oberflächentopographien ermöglichen. 

Sie lernen spezielle Kennwerte zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen kennen und üben den Umgang mit Sonderfällen der Oberflächenmessung. Im Seminar wird die optische Oberflächenmessung behandelt sowie die Bedeutung der 3D-Oberflächen-Parameter erläutert. Die Teilnehmer:innen werden in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte 2D und 3D zielgerichtet auszuwählen, die dafür notwendigen Vorgaben für eine korrekte Messung auszuwählen, mögliche Messfehler zu erkennen sowie deren Ergebnisse qualifiziert zu beurteilen.

HINWEIS
Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ – www.tae.de/60213 – und kann einzeln gebucht werden.